基于布尔可满足性的电路设计错误诊断的中期报告摘要：本文介绍了一种基于布尔可满足性（SAT）的电路设计错误诊断方法。该方法将电路中的错误定位于仅包含单个错误门的语句集合，从而可以快速准确地确定故障的位置。实验结果表明，该方法在时间和空间效率方面优于现有的方法，并提供了更准确的诊断结果。介绍：在现代电路设计中，错误的出现不可避免，并且可能导致性能下降，甚至完全失败。因此，检测和纠正错误是设计过程的一个重要环节。传统的电路错误诊断方法通常涉及使用模拟器进行波形比较以确定电路行为是否与预期相符。但是，这种方法需要大量的计算资源和时间，并且无法对大型电路进行有效的故障诊断。布尔可满足性（SAT）是一种快速求解大型布尔逻辑公式的方法。因此，基于SAT的电路错误诊断方法已成为研究的重点。该方法通过将电路转换成SAT问题，然后使用SAT求解器找到单个故障点的语句集合。这种方法比传统的基于波形比较的方法更快、更准确。方法：本文提出了一种基于SAT的电路设计错误诊断方法。直接将电路转换成一个SAT问题是不可行的，因为SAT问题的规模取决于电路大小和故障数量。为了解决这个问题，我们提出了以下步骤：1.通过故障注入技术向电路注入故障。对于每个故障点，我们将其标记为目标节点。2.将目标节点的逻辑函数转换为CNF形式，并将其作为SAT问题的输入。3.使用SAT求解器找到解析故障的语句集合，即包含单个目标节点的错误门的语句集合。4.对于每个目标节点，检查其解析时使用的语句集合是否仅包含单个错误门。如果是，则该门是故障门。实验：为了验证该方法的效果，我们使用了不同的电路，并注入了一定数量的故障。与其他现有方法相比，我们的方法在时间和空间效率方面都表现出更好的性能，并且提供了更准确的故障诊断结果。结论：本文提出了一种基于SAT的电路设计错误诊断方法，该方法可以快速、准确地诊断电路中的错误。实验结果表明，该方法比传统的基于波形比较的方法更快、更准确，并可以在大型电路中实现有效的故障诊断。未来的工作可以进一步优化算法，以实现更高效、更准确的故障诊断。