AuLX射线发射截面和Al、Ti、Ni表面可见、红外光谱测量的中期报告目前针对AuLX射线发射截面和Al、Ti、Ni表面可见、红外光谱的测量已经完成了一部分工作，以下是中期报告：1.AuLX射线发射截面测量使用X射线荧光光谱仪对Au的LX射线发射截面进行了测量，得到了较为准确的结果。同时，还利用了文献中已有的数据进行对比验证，并对实验结果进行了误差分析。目前的结果表明，实验数据与文献中的数据基本一致，但还需要进一步验证和完善。2.Al、Ti、Ni表面可见光谱测量采用了可见光谱仪对Al、Ti、Ni等金属表面进行了光谱测量，得到了吸光度随波长的变化规律。分析结果表明，实验数据与理论模拟基本一致，但存在一定的误差。需要进一步考虑误差来源，并对实验结果进行优化和完善。3.Al、Ti、Ni表面红外光谱测量利用红外光谱仪对Al、Ti、Ni等金属表面进行了红外光谱测量，并得到了波数随吸收强度的变化曲线。初始结果表明，实验数据与理论模拟有一定的差距，需要对实验条件进行优化，并进行更加精细的实验和数据分析。总体而言，针对AuLX射线发射截面和Al、Ti、Ni表面可见、红外光谱的测量，初步实验已经完成，但需要进一步实验和数据分析提高结果的精度和可靠性。