功率裸芯片的测试与老化筛选技术的中期报告这篇报告概述了功率裸芯片测试和老化筛选技术的中期进展和结果。首先，我们进行了功率裸芯片的测试，包括静态功耗测试和动态功耗测试。静态功耗测试是在芯片待机时测量其功耗，动态功耗测试是在芯片运行时测量其功耗。我们使用了一系列的测试环境和设备来测试芯片的功率，并且记录并分析了结果。接着，我们进行了老化筛选测试。这项测试旨在模拟芯片在实际使用中所经历的一些压力和环境条件，以检查芯片的可靠性和稳定性。我们使用了高温，高压和电压波动等测试条件来模拟芯片在极端环境下的表现，并记录下芯片在各种测试条件下的表现和故障率。经过测试和老化筛选，我们可以得出以下结论：1.静态功耗和动态功耗在不同的测试环境下存在差异，并且在一些测试条件下，芯片的功率可能会变得非常不稳定。2.芯片在高温，高压和电压波动等条件下表现良好，表明其具有较高的可靠性。3.芯片的故障率在测试期间保持相对稳定，并且没有出现任何显着的问题。综上所述，我们的测试和老化筛选结果表明，该功率裸芯片具有较高的可靠性和稳定性，并且可以在各种条件下正常工作。但是，我们仍然需要进一步的测试和评估来确认其可靠性和性能表现。