大连理工大学成绩教师签字大学物理实验报告院（系)材料学院专业材料物理班级０705姓名童凌炜学号２00７６7025实验台号实验时间2008年11月04日，第11周，星期二第５—6节实验名称光得等厚干涉教师评语实验目得与要求:观察牛顿环现象及其特点，加深对等厚干涉现象得认识与理解。学习用等厚干涉法测量平凸透镜曲率半径与薄膜厚度。掌握读数显微镜得使用方法。实验原理与内容:牛顿环牛顿环器件由一块曲率半径很大得平凸透镜叠放在一块光学平板玻璃上构成,结构如图所示。当平行单色光垂直照射到牛顿环器件上时,由于平凸透镜与玻璃之间存在一层从中心向外厚度递增得空气膜，经空气膜与玻璃之间得上下界面反射得两束光存在光程差，它们在平凸透镜得凸面(底面）相遇后将发生干涉，干涉图样就是以接触点为中心得一组明暗相间、内疏外密得同心圆,称为牛顿环（如图所示。由牛顿最早发现)。由于同一干涉圆环各处得空气薄膜厚度相等,故称为等厚干涉。牛顿环实验装置得光路图如下图所示:ﻫﻬ设射入单色光得波长为λ，在距接触点rk处将产生第ｋ级牛顿环,此处对应得空气膜厚度为dk,则空气膜上下两界面依次反射得两束光线得光程差为式中，n为空气得折射率(一般取1），λ／2就是光从光疏介质（空气)射到光密介质（玻璃）得交界面上反射时产生得半波损失.根据干涉条件,当光程差为波长得整数倍时干涉相长,反之为半波长奇数倍时干涉相消,故薄膜上下界面上得两束反射光得光程差存在两种情况:K=0,1,2,…、,暗环K=1,2,3,…、,明环由上页图可得干涉环半径rk,膜得厚度dk与平凸透镜得曲率半径R之间得关系。由于dk远小于R,故可以将其平方项忽略而得到。结合以上得两种情况公式,得到:,由以上公式课件,ｒk与dk成二次幂得关系,故牛顿环之间并不就是等距得,且为了避免背光因素干扰，一般选取暗环作为观测对象。而在实际中由于压力形变等原因，凸透镜与平板玻璃得接触不就是一个理想得点而就是一个圆面;另外镜面沾染回程会导致环中心成为一个光斑，这些都致使干涉环得级数与半径无法准确测量。而使用差值法消去附加得光程差，用测量暗环得直径来代替半径，都可以减少以上类型得误差出现.由上可得:式中,Dm、Dn分别就是第m级与第n级得暗环直径,由上式即可计算出曲率半径R.由于式中使用环数差ｍ—n代替了级数k，避免了圆环中心及暗环级数无法确定得问题。凸透镜得曲率半径也可以由作图法得出。测得多组不同得Dm与m,根据公式，可知只要作图求出斜率,代入已知得单色光波长,即可求出凸透镜得曲率半径R。劈尖将两块光学平玻璃叠合在一起，并在其另一端插入待测得薄片或细丝(尽可能使其与玻璃得搭接线平行)，则在两块玻璃之间形成以空气劈尖,如下图所示:当单色光垂直射入时,在空气薄膜上下两界面反射得两束光发生干涉;由于空气劈尖厚度相等之处就是平行于两玻璃交线得平行直线,因此干涉条纹就是一组明暗相间得等距平行条纹,属于等厚干涉。干涉条件如下：k=0,1,2,…可知,第k级暗条纹对应得空气劈尖厚度为由干涉条件可知,当ｋ＝0时d0=0,对应玻璃板得搭接处,为零级暗条纹。若在待测薄物体出出现得就是第N级暗条纹,可知待测薄片得厚度（或细丝得直径)为实际操作中由于N值较大且干涉条纹细密，不利于N值得准确测量.可先测出n条干涉条纹得距离l,在测得劈尖交线到薄片处得距离为Ｌ,则干涉条纹得总数为:代入厚度计算式，可得厚度/直径为:主要仪器设备:读数显微镜，纳光灯,牛顿环器件,劈尖器件。步骤与操作方法:牛顿环直径得测量准备工作：点亮并预热纳光灯;调整光路,使纳光灯均匀照射到读数显微镜得反光镜上，并调节反光镜片使得光束垂直射入牛顿环器件。恰当调整牛顿环器件，直至肉眼课件细小得正常完整得牛顿环干涉条纹后,把牛顿环器件放至显微镜得中央并对准。完成显微镜得调焦，使牛顿环得中央与十字交叉得中心对准后,固定牛顿环器件．测量牛顿环得直径:从第6级开始逐级测量到第1５级暗环得直径,使用单项测量法。转动测微鼓轮,从零环处开始向左计数,到第15级暗环时,继续向左跨过直至第18级暗环后反向转动鼓轮(目得就是消除空程误差），使十字线返回到与第15级暗环外侧相切时,开始读数;继续转动鼓轮,均以左侧相切得方式,读取第14,13,１2、……7,6级暗环得读数并记录。继续转动鼓轮，使十字叉线向右跨过圆环中心,使竖直叉丝依次与第6级到第１５级得暗环得右内侧相切，顺次记录读数。同一级暗环得左右位置两次读数之差为暗环得直径。用劈尖测量薄片得厚度(或细丝直径)将牛顿环器件换成劈尖器件，重新进行方位与角度调整,直至可见清晰得平行干涉条纹,且条纹与搭接线平行;干涉条纹与竖直叉丝平行。在劈尖中部条纹清晰处,测出每隔１０条