D-T反应中子源准直屏蔽体及中子束特性研究的中期报告本中期报告主要介绍了在D-T反应中子源准直屏蔽体及中子束特性研究中所取得的进展及存在的问题。1.研究进展(1)准直屏蔽体设计：根据实验要求，设计了一种结构紧凑、准直性好、屏蔽效果高的准直屏蔽体，经过模拟计算和实验验证，达到了要求。(2)中子束特性测量：采用时间飞行法和反射法对中子束的时间结构和能量分布进行了测量，得到了较为准确的数据，有利于后续的实验研究。(3)实验设计：在准直屏蔽体中安装了探测器和样品位置，设计了一系列实验方案，用于测量中子的产生、传输、散射、吸收等特性。2.存在的问题(1)实验系统的稳定性：中子源的稳定性是实验的关键，需要进一步寻找合适的方法来保持其稳定运行，减小实验误差。(2)实验样品选择：由于样品对中子束的散射和吸收情况各不相同，需要对样品的特性进行更加详细的了解和分析，以便得到更准确的数据。(3)中子束特性测量的准确性：现有的测量方法虽然能够得到中子束的时间结构和能量分布，但存在一定的误差，需要进一步深入研究和探索。综上所述，针对存在的问题，下一步的工作将主要集中在解决实验系统稳定性问题，优化实验样品选择和深入探究中子束特性测量方法的准确性等方面。