测量系统所应具有之统计特性测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一。测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。标准测量系统的评定第二阶段的评定目的是在验证一个测量系统一旦被认为是可行的，应持续具有恰当的统计特性。常见的就是“量具R&R”是其中的一种型式。各项定义量具再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。偏倚:指同一操作人员使用相同量具，测量同一零件之相同特性多次数所得平均值与采用更精密仪器测量同一零件之相同特性所得之平均值之差，即测量结果的观测平均值与基准值的差值，也就是我们通常所称的“准确度”线性：指测量系统在预期的工作范围内偏倚的变化。分析时机R&R之分析针对重要特性(尤指是有特殊符号指定者)所使用量具的精确度应是被测量物品公差的1/10,(即其最小刻度应能读到1/10过程变差或规格公差较小者;如:过程中所需量具读数的精确度是0.01m/m,则测量应选择精确度为0.001m/m),以避免量具的鉴别力不足，一般之特性者所使用量具的精确度应是被测量物品公差的1/5。试验完后,测试人员将量具的重复性及再现性数据进行计算(R&R数据表),(R&R分析报告),依公式计算并作成R管制图或直接用表计算即可结果分析:测量系统R&R分析(均值——极差法)以下举一典型情况说明此方法2数据处理2.1极差计算2.2均值计算3结果分析以下计算的变差均以99%的正态概率为基础，即变差=5.15σ。3.1重复性3.2再现性3.3测量系统双性（R&R）3.4零件变差3.5总变差3.6各变差占总变差的百分比%AV=AV/TVX100%%R&R=R&R/TVX100%%PV=PV/TVX100%%EV=EV/TVX100%应同时将EV、AV、R&R各值与公差带宽度比较，得出各变差占公差带的百分比。%R&R可接受的条件是：<10%可接受；10~30%——有条件可接受；>30%——不可接受，应改进。数值<10%的误差测量系统可接受.10%<数值<30%的误差测量系统可接受或不接受,决定于该测量系统之重要性,量具成本、修理所需之费用等因素，可能是可接受的.数值>30%的误差测量系统不能接受,须予以改进.进行各种势力发现问题并改正，必要时更换量具或对量具重新进行调整,并对以前所测量的库存品再抽查检验,如发现库存品已超出规格应立即追踪出货通知客户,协调处理对策.习题：稳定性分析之执行(Stability)定期(时、天、周)对标准件或样本测量3～5次.注意,决定样本量及频度的考虑因素应包括要求多长时间重新校正或修理次数,测量系统使用的频度与操作环境(条件)等.将测量(数据)值标记在X-RCHART或X–SCHART上.计算管制界限,确定每个曲线的控制限并按标准图判断失控或不稳定状态。计算标准差,并与测量过程偏差相比较,以评估测量系统的重复性是否适于应用.不可以发生此项之标准大于过程标准差之现象，如果有发生此现象，代表测量之变异大于制程变异，此项仪器是不可接受的。稳定性之判定：稳定性之判定一般之方式和控制图之判定方式是一致的，(一)不可以有点子超出控制界限，(二)不可以有连续三点中有二点在A区或A区以外之位置，(三)不可以有连续五点中有四点在B区或B区以外之位置，(四)不可有连续八点在控制图之同一侧，(五)不可以有连续七点持续上升或下降之情形；如果有以上之情形，代表仪器已不稳定，须做维修或调整，维修及调整完后须再做校正以及稳定性之分析。偏倚分析之执行(Bias)计算偏倚:偏倚=观察平均值–基准值制程变异=6σ如果需要一个指数，把偏倚乘以100再除以过程变差(或公差)，就把偏倚转化为过程变差(或公差)的百分比，偏倚占过程变差的百分比计算如下：偏倚%=100[(偏倚)/过程变差]偏倚占公差百分比采用同样方法计算，式中用公差代替过程变差。判定:针对偏倚之部份，判定之原则为：重要特性部份其偏倚%须<=10%；一般特性其偏倚%须<30%；应依据仪器之使用目的来说明其接受之原因。其偏倚%大于30%者，此项仪器不适合使用。如果偏倚较大，查找以下可能的原因：线性分析之执行(Linear)计算偏倚:偏倚=观察平均值–基准值过程变差=6σ绘图:X轴=基准值Y轴=偏倚其方程式为:y=a+bx再分别计算其截距，斜率，拟合优度，线性，线性%等公式判定:针对重要特性其线性度%<5%一般特性其线性度%<10%线性度%>10%以上者判为不合格，此