TFT-LCDMura缺陷检测研究的中期报告中期报告：一、背景TFT-LCD液晶显示技术因其高清晰度、高亮度、低功耗等优势，已经广泛应用于平板电视、笔记本电脑、智能手机等各类消费电子产品中。但是，在TFT-LCD液晶显示器生产过程中，会经常出现Mura缺陷问题，这是一种表现为屏幕出现不均匀颜色或亮度的缺陷，该缺陷无法用传统的抖动技术解决。Mura缺陷不仅影响产品的质量，还会使生产成本增加。二、研究目标本次研究的目标是建立一种高效、准确的TFT-LCDMura缺陷检测方法，以提高产品的质量和降低生产成本。具体研究内容包括：1、总结TFT-LCDMura缺陷的常见表现形式及其原因；2、研究影响Mura缺陷检测的主要因素；3、比较不同的Mura缺陷检测方法，分析其优缺点；4、探索新的Mura缺陷检测算法，优化检测效率。三、研究进展在项目启动后的两个月中，我们完成了以下工作：1、调研了当前主流的Mura缺陷检测方法，包括光学检测、电学检测、图像处理、机器学习等方法，并详细分析了各种方法的优缺点；2、统计了TFT-LCDMura缺陷的主要表现形式，包括亮度Mura、色差Mura、黑点Mura、白点Mura等，并分析了各种Mura缺陷的产生原因；3、建立了一套基于图像处理技术的Mura缺陷检测系统，并在实验室开展了初步测试。该系统采用了改进的Gabor滤波器和自适应阈值算法，能够快速、准确地检测TFT-LCD显示屏上的Mura缺陷。四、下一步工作计划根据我们目前的研究进展，下一步我们将重点做好以下几个方面的工作：1、对当前检测系统进行进一步优化，提高检测效率和准确性；2、开展大规模的Mura缺陷样本收集，并与当前主流的Mura缺陷检测系统进行对比测试，评估我们的系统的检测性能；3、进一步探索新的Mura缺陷检测算法，提升系统的竞争力和适用性。