某电子控制系统自动测试系统开发及SRAM内建测试方法研究的开题报告尊敬的评委、老师，大家好：本人即将开展的毕业设计课题是电子控制系统自动测试系统开发及SRAM内建测试方法研究。经过慎重考虑和充分调研，我选择了这个课题，希望在此过程中能够学到更多的知识和技能，做出有意义的成果。一、研究背景和意义随着工业自动化和信息化的不断深入和普及，电子控制系统越来越广泛地应用于各个领域。而这些控制系统中，像SRAM这样的存储器件起着非常重要的作用。它们通常需要进行内建测试操作，以确保其可靠性和稳定性。另外，在控制系统的生产过程中，也需要对整个系统进行自动测试，以保证其质量和性能。因此，开发一种电子控制系统自动测试系统，并研究SRAM内建测试方法，具有非常重要的现实意义和应用价值。二、主要研究内容和研究方法本设计的主要研究内容包括两部分，一部分是电子控制系统自动测试系统的开发，另一部分是SRAM内建测试方法的研究。1.电子控制系统自动测试系统的开发该部分将主要开发一种基于计算机的自动测试系统，用于对电子控制系统的各个部分进行自动化测试。主要包括以下内容：（1）开发测试软件，并编写各种测试用例，用于测试电子控制系统的硬件和软件模块。（2）设计测试装置，用于提供各种电信号、控制信号和输入输出信号，以模拟实际应用场景和各种运行环境。（3）编写测试脚本，用于自动化执行测试用例，并实现对测试结果的记录和统计分析。2.SRAM内建测试方法的研究该部分将主要研究SRAM内建测试方法，以了解SRAM的内部结构和测试原理，并探索一种可行的内建测试策略。具体研究方法包括以下内容：（1）了解SRAM的基本工作原理、内部结构和重要性质，了解常用的SRAM测试方法和流程，并阅读相关的学术论文和研究文献。（2）研究内建测试方法和策略，探索可行的测试方案，并设计测试程序和测试流程。（3）实现内建测试程序，并对其进行测试和优化，以实现高效、准确、稳定的SRAM测试。三、预期成果经过本人努力和团队合作，本设计预期完成以下成果：（1）开发一款电子控制系统自动测试系统，并在实际应用中测试和优化，使其能够对控制系统的各个模块进行自动化测试，并实现录制、回放、解析测试结果的功能。（2）在SRAM内建测试方法的研究中，设计出可行、高效、准确、稳定的测试方案和策略，并实现相关程序和测试流程。（3）利用开发的自动测试系统和SRAM内建测试程序对一个参考系统进行测试，并得到客观、可靠的测试结果和数据。四、论文结构及时间计划本设计论文将分为以下几个章节：第一章是绪论，介绍本研究的目的、背景和意义；第二章是文献综述，介绍国内外相关领域的研究进展和技术路线；第三章是理论基础，介绍控制系统测试、SRAM内建测试的原理和方法；第四章是自动测试系统的设计与实现，介绍电子控制系统自动测试系统的设计与实现过程；第五章是SRAM内建测试方法的研究与实现，介绍SRAM内建测试方法的研究、设计和实现过程；第六章是测试结果与数据分析，介绍测试结果及其分析方法；第七章是结论与展望，对本研究的主要成果和局限性进行总结，并对未来研究方向进行展望。时间计划如下：2019年10月至12月：文献综述和理论基础的学习和研究。2020年1月至3月：开发控制系统自动测试软件，设计测试用例和测试脚本，编写代码实现。2020年4月至6月：测试系统的设计与实现，设计测试装置，搭建测试环境，进行测试和优化。2020年7月至9月：SRAM内建测试方法的研究，设计测试方案和程序，进行测试和数据分析。2020年10月至12月：测试结果和数据的统计分析，论文撰写和论文答辩准备。以上是本人的开题报告，谢谢您的耐心阅读！