Paul阱中汞离子的囚禁及直流抛出检测的中期报告在这份中期报告中，我们分享了关于Paul阱中汞离子囚禁和直流抛出检测的一些进展。下面是一些主要结果和发现：-我们成功地实现了汞离子的囚禁和直流抛出检测。我们使用了化学气相沉积技术制备亚微米尺寸的铝电极，并在这些电极上通过电子束光刻制备了高质量的阱结构。使用激光冷却和电子扇形电极实现了汞离子的冷却和捕获。然后，我们调整直流电场的大小和方向，将汞离子从阱中抛出，并使用位于抛出端的电子倍增管检测汞离子的信号。-我们对汞离子的囚禁和抛出行为进行了详细的研究。我们发现，汞离子的囚禁时间与加热器温度和离子数密度有关。我们还发现，在一定范围内增加直流电场大小和方向与囚禁时间之间存在复杂的关系。我们还发现，汞离子的抛出时间与直流电场大小和方向、离子数密度以及抛出位置等因素有关。-我们还进行了一系列实验，研究了不同参数下汞离子的囚禁和抛出行为。我们发现，通过优化加热器温度、离子数密度和直流电场参数，可以实现更长的囚禁时间和更高的抛出效率。我们还研究了不同大小的汞离子的囚禁和抛出行为，并发现这些行为与离子质量有关。总之，我们的研究证明了在Paul阱中囚禁和抛出汞离子的可行性，并揭示了一些与这些过程相关的重要参数。我们的工作为未来设计和实现实用的量子信息存储和处理系统奠定了基础。