存储测试专用集成电路成测技术研究的开题报告开题报告论文题目：存储测试专用集成电路成测技术研究一、选题背景与意义随着集成电路技术的不断发展，存储器在电子产品中广泛应用，如计算机内存、智能手机存储等。在生产过程中，需要对存储器进行测试，以保证其质量和可靠性。存储测试专用集成电路（StorageTestSpecificIntegratedCircuit，STSIC）是一种专门用于存储器测试的集成电路。STSIC可以不仅提高测试效率，还可以减少测试成本和测试时间。因此，研究STSIC成测技术对于提高存储器测试的效率和降低测试成本具有非常重要的实际意义。二、研究目的和内容本文旨在研究存储测试专用集成电路（STSIC）成测技术。具体研究内容包括：1.STSIC结构和工作原理的基础研究2.STSIC成测技术的研究和分析，包括测试算法和测试模式等3.STSIC的设计和实现4.STSIC的测试和验证5.比较STSIC和传统存储器测试方法的优缺点三、研究方法和技术路线本文采用文献综述和实验分析相结合的研究方法。首先，通过文献综述的方式，对STSIC的结构和工作原理、测试算法和测试模式等进行全面归纳和阐述；其次，通过实验分析的方式，设计和实现STSIC，进行测试和验证，并对STSIC和传统存储器测试方法进行比较和分析。技术路线如下：1.STSIC结构和工作原理的基础研究通过文献综述方法，对STSIC结构和工作原理进行系统性介绍和分析。2.STSIC成测技术的研究和分析通过文献综述方法，对STSIC的测试算法和测试模式进行系统性介绍和分析，包括功能测试、边界扫描测试、故障仿真测试等。3.STSIC的设计和实现在前两步基础上，设计并实现STSIC，分析其性能指标。4.STSIC的测试和验证使用自主开发的STSIC进行存储器测试，测试结果与传统存储器测试方法进行比较和分析。5.比较STSIC和传统存储器测试方法的优缺点对STSIC和传统存储器测试方法的优缺点进行对比分析。四、预期成果1.理论方面，对STSIC的结构和工作原理、测试算法和测试模式等进行系统性介绍和分析。2.实践方面，设计并实现STSIC，测试和验证其性能指标。3.比较STSIC和传统存储器测试方法的优缺点。五、研究计划和进度安排本论文计划完成时间为4个月，具体进度安排如下：1.第1-2个月，进行文献综述，研究STSIC的结构和工作原理、测试算法和测试模式等。2.第3-4个月，设计并实现STSIC，进行测试和验证。3.第5个月，撰写论文，并对STSIC和传统存储器测试方法的优缺点进行对比分析。