AZ31镁合金微弧氧化膜的电化学腐蚀性能研究的中期报告本次研究旨在系统地研究AZ31镁合金微弧氧化膜的电化学腐蚀性能，并探究对其腐蚀性能的影响因素。本次报告为中期报告，总结了研究进展及初步发现。一、研究进展1.样品制备：使用电解液Na2SiO3和Na3PO4分别制备了5个微弧氧化样品，分别为M1，M2，M3，M4和M5，不同样品的工艺参数如表1所示。2.表征方法：使用扫描电子显微镜（SEM）、X射线衍射仪（XRD）和红外光谱仪（FTIR）等手段对样品进行了表征。3.电化学测试：使用电化学工作站对样品进行了极化曲线测试、交流阻抗谱测试和恒电流加速腐蚀测试。二、初步发现1.样品表征所有样品均得到了均匀致密的微弧氧化膜，由SEM观察到其表面呈现出网状结构，且M5样品表面出现了一些小孔洞。XRD结果显示，所有样品的膜层主要成分均为MgO和Mg3(PO4)2，此外还有少量杂质相。FTIR分析得出了所有样品的膜层均包含PO4^3-与Mg-O键结构。2.电化学性能极化曲线测试和交流阻抗谱测试表明，所有样品的微弧氧化膜对腐蚀具有一定的保护作用，其中M5样品的保护效果最好。恒电流加速腐蚀测试结果显示，M1样品的膜层被腐蚀时间最短，而M5样品的膜层被腐蚀最慢。三、下一步计划1.对不同样品的微弧氧化膜进行更加系统的电化学测试，包括动态电位扫描（DPS）测试、扫描震荡电位（SVET）测试等。2.研究不同工艺参数对微弧氧化膜腐蚀性能的影响，寻找最优工艺参数组合。3.将本次研究结果应用于AZ31镁合金在实际腐蚀环境下的耐蚀性能研究。