ICT基本测试原理1.电阻测试原理2.电容/电感测试原理3.二极体及IC保护二极体测试原理4.齐纳二极体测试原理5.电晶体三极管测试原理6.光藕合元件测试原理7.电容极性测试原理1.1电阻测试原理1.1.1固定电流源ConstantCurrent模式MODE0对于不同的电阻值ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用如此才不会因使用都的选择不当因而产生过高的电压而烧坏被测试元件故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I流经被测电阻R再于被测电阻R两端测量出Vr由于Vr及I已知利用VrIR公式即可得知被测电阻R值如附图一.RANGECURRENT1欧姆--299.99欧姆5mA300欧姆--2.99K欧姆500uA3K欧姆--29.99K欧姆50uA30K欧姆--299.99K欧姆5uA300K欧姆--2.99M欧姆0.5uA3M欧姆--40M欧姆0.1uAVrIR图一:固定电流源方法RVr1.1电阻测试原理1.1.2低固定电流源LowConstantCurrent模式MODE1该测试方法和上述固定电流源模式一样只是在被测电阻于电路上并联Parallel着二极体Diode或是IC保护二极体ICClampingDiode时对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时因为二极体导电的关系该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V左右固无法量测出真正的Vr值为了解决此问题只要将原先的电流源降低一级即可.如附图二.RANGECURRENT1欧姆--299.99欧姆500uA300欧姆--2.99K欧姆50uA3K欧姆--29.99K欧姆5uA30K欧姆--299.99K欧姆0.5uA300K欧姆--2.99M欧姆0.1uAVrIR图二:低固定电流源方法RVr1.1电阻测试原理1.1.3交流相位ACPhase测试模式MODE3、MODE4、MODE5由于电路设计关系被测试电阻将会并联着电感等元件对于此电阻值测量若使用固定电流源方式测试电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值故使用AC电压源利用相位角度的领先及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V同时在被测电阻两端测量出Iz由于VIzZrl因为V及Iz已知故可得知Zrl又因为RZrlcosθ而Zrl及cosθ已知故即可得知被测电阻R值.如附图三.SIGNALRANGELRANGER1KHz600uH--60H5欧姆--300欧姆10KHz60uH--600mH5欧姆--40K欧姆100KHz6uH--6mH5欧姆--4K欧姆VIzZrlRZrlcosθ图三:交流相位测试方法RLV1.1电阻测试原理1.1.4快速High-Speed测试模式MODE2假如被测电阻并联一颗0.3uF以上的电容时若使用上述固定电流源测试时需要花费很长的时间让电容充饱电荷再去测量出Vr值而得知R值如此测试方法将增加ICT测试时间为解决此问题可以将固定DC电流源改为0.2VDC固定电压源直接接于被测电阻两端如此电容将会在短暂时间内使其Ic0故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2VDC电压源当Ic0时再测试流经电阻两端的Ir因为VIrR而V及Ir已知即可得知电阻R值.如附图四.SIGNALRANGELRANGER1KHz600uH--60H5欧姆--300欧姆10KHz60uH--600mH5欧姆--40K欧姆100KHz6uH--6mH5欧姆--4K欧姆VIrR图四:交流相位测试方法RC0.2V2电容/电感测试原理2.1固定AC电压源ConstantACVoltage测试模式MODE0、MODE1、MODE2、MODE对于不同阻抗的电容或电感ICT本身会自动选择一个适当频率frequency的AC电压源作为测试使用其频率计有:1KHz10KHz100KHz1MHz对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源再测量被测元件两端的电压源由于VIcZc或VIlZl而V及Ic或Il已知故得知Zc1/2πfC或Zl2πfL又因f已知故即可得知电容C或电感L值.如附图五.DEBUGSIGNALCAPACITORINDUCTORMODESOURCERANGERANGE01KHz400pF--30uF6mH--60H110KHz40pF--4uF600mH以下2100KHz1pF--40nF6mH以下31MHz1pF--300pF1uH--60uHVIcZc1/2πfCIVIlZl1/2πfLI图五:固定AC电压源测试方法VIcZc2电容/电感测试原理2.2AC相位ACPhase测试模式MODE5、MODE6、MODE7对于电容或电感的测试若并联电阻时则利用相位角度的领先及落后方式来测量出阻抗值故其测量方式为:提供一个适当频率的AC电压源并在被测