基于多扫描链的BIST设计的任务书一、研究背景随着集成电路设计的复杂性和规模不断增加，测试技术的重要性也日益突出。测试是集成电路设计中的一项重要环节，它主要包括测试生成、测试压缩、测试划分、测试顺序等方面。其中，建立高效可靠的BIST（内嵌式自测试）技术是测试技术研究的热点之一。多扫描链技术是一种常用的BIST的测试方式。多扫描链可以提高测试效率和可靠性，减少测试时间和测试成本。但是，设计多扫描链的BIST需要考虑多种因素，如测试生成算法、扫描链长度、压缩比、测试数据量等，并对其进行合理的优化和调整，以达到最优化的测试效果。因此，本研究旨在基于多扫描链技术，设计高效可靠的BIST，并优化测试生成算法和扫描链长度，提高测试效率和可靠性。二、研究内容及步骤1.调研和分析多扫描链技术在BIST测试中的应用情况和研究进展。2.设计多扫描链的BIST测试电路，包括扫描链生成和压缩电路、测试模式产生电路以及自动测试控制电路等。3.优化扫描链长度和压缩比，提高测试效率和可靠性。4.设计测试生成算法，实现良好的测试覆盖率和故障检测率。5.对设计的BIST测试电路进行仿真、验证和实验测试。6.总结论文结果，撰写论文报告。三、研究计划第一年：1.研究多扫描链技术在BIST测试中的应用情况和研究进展。2.设计多扫描链的BIST测试电路，并完成测试生成算法的仿真和验证。第二年：1.优化扫描链长度和压缩比，提高测试效率和可靠性，并进行仿真测试。2.设计测试模式产生电路和自动测试控制电路，并完成仿真和实验测试。第三年：1.对设计的BIST测试电路进行实验测试和性能评估。2.总结研究结果，撰写论文报告，并进行论文答辩。四、预期成果1.设计一种基于多扫描链的BIST测试电路，能够提高测试效率和可靠性。2.优化扫描链长度和压缩比，提高测试效率和可靠性。3.设计测试生成算法，实现良好的测试覆盖率和故障检测率。4.完成论文报告并进行论文答辩。