变长重复播种BIST与SoC测试的任务书任务名称：变长重复播种BIST与SoC测试任务说明：本次任务旨在设计和实现一种变长重复播种BIST（Built-InSelf-Testing）方案，并结合SoC（SystemonChip）测试实现对芯片资源进行全面的可靠性测试。任务目标：1.设计一种变长重复播种BIST方案，使其能够适应多种芯片架构和测试需求。2.实现该BIST方案，包括设计和验证BIST控制器、产生BIST数据、采集测试结果等步骤。3.结合SoC测试，设计测试框架和测试用例，对芯片资源进行全面可靠性测试，包括逻辑、存储和接口等方面的测试，以达到提高生产成本、降低测试时间、提高芯片可靠性的目的。4.编写测试报告，详细说明测试方案、测试结果、问题处理等内容。5.维护并优化该方案，确保其在未来的应用中能够保持稳定性和可靠性。任务周期：3个月任务分工：1.BIST方案设计人员负责设计方案，确定控制器和数据生成器等关键模块的实现。2.BIST方案实现人员负责实现BIST方案，包括控制器和数据生成器等模块的设计和验证。3.SoC测试方案设计人员负责设计测试框架、编写测试用例并实现测试。4.测试报告撰写人员负责撰写测试报告，并总结测试方案的优缺点以及未来的改进方向。5.方案维护和优化人员负责维护、优化该方案，提高其稳定性和可靠性，确保其在未来的应用中发挥更好的作用。