豪安能以黑心片改善方案1黑心片产生的机理所谓的黑心片是指在电池片EL测试时，其中间会出现完整的同心圆黑区，在黑区转换效率极低。通过实验测试，主要还是原硅片内大量位错引起的防止太能低效(黑心)硅片的原因。通过实验验证和原料的相关性不大，因此和工艺有很大关系其产生的原因有：1、位错引晶时长度不够，位错排除不彻底或者晶棒位错反切不彻底。2.OISF拉晶的热场（V/G）、工艺参数等不完善导致的OISF（氧化诱生层错）2.解决方法：1.单晶生产车间对引晶长度进行管控（大于150mm），在记录本上记录引晶长度。2由于产生的机理不是很明确，需要验证几个因素：1.整棒和断棱（反切后）的棒子的区别。以验证位错的影响。整棒表示单晶标号HA130803203-0，断棱的棒子HA130803203-1（2）2.取整棒头部和尾部的区别。头部：HA130803203-0-A尾部；HA130803203-0-w3.通过验证，对工艺进行调整，然后验证工艺改善。调整热场的工艺拉速，梯度（盖距）等参数。