集成电路(jíchéng-diànlù)设计技术与工具详解内容提要(nèirónɡtíyào)12.1引言(yǐnyán)12.2集成电路(jíchéng-diànlù)测试信号连接方法12.2集成电路(jíchéng-diànlù)测试信号连接方法12.2.1芯片在晶圆测试的连接(liánjiē)方法12.2.1芯片在晶圆测试(cèshì)的连接方法12.2.1芯片在晶圆测试(cèshì)的连接方法12.2.1芯片在晶圆测试的连接(liánjiē)方法12.2.1芯片(xīnpiàn)在晶圆测试的连接方法12.2.2芯片成品测试的连接(liánjiē)方法12.3模拟(mónǐ)集成电路测试方法12.3.1直流工作(gōngzuò)点测试12.3.2交流特性(tèxìng)测试12.3.3瞬态特性(tèxìng)测试12.3.4频谱与噪声(zàoshēng)测试12.3.5模拟(mónǐ)集成电路测试实例12.3.5模拟集成电路(jíchéng-diànlù)测试实例12.3.5模拟(mónǐ)集成电路测试实例12.3.5模拟集成电路(jíchéng-diànlù)测试实例12.3.5模拟集成电路测试(cèshì)实例12.3.5模拟集成电路测试(cèshì)实例12.3.5模拟(mónǐ)集成电路测试实例12.3.5模拟集成电路测试(cèshì)实例12.3.5模拟集成电路测试(cèshì)实例12.4数字集成电路(jíchéng-diànlù)测试方法概述12.4.1数字(shùzì)集成电路测试的基本概念12.4.1数字集成电路(jíchéng-diànlù)测试的基本概念12.4.1数字集成电路(jíchéng-diànlù)测试的基本概念12.4.2故障(gùzhàng)模型和测试向量的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障模型(móxíng)和测试向量的生成12.4.2故障模型和测试(cèshì)向量的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障模型(móxíng)和测试向量的生成12.4.2故障模型(móxíng)和测试向量的生成12.4.2故障模型(móxíng)和测试向量的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障(gùzhàng)模型和测试向量的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障(gùzhàng)模型和测试向量的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障模型(móxíng)和测试向量的生成12.4.2故障模型和测试向量(xiàngliàng)的生成12.4.2故障模型和测试(cèshì)向量的生成12.4.2故障模型(móxíng)和测试向量的生成首先，假设内部节点A存在固定于1的故障，求测试矢量第一步：为了使A节点的故障能够被激活(jīhuó)，设置或门输入信号ab为00，则A节点的正常逻辑值为0第二步：为了将S点的故障传播到输出F，沿着A→F的路径必须被敏化，这就要求c=1，D=0.满足这两个条件后，固定于1的故障A被倒相的传播到原始输出端F，因此在F端可以看到一个倒相的故障效应0第三步：根据故障激活的要求和路径敏化的要求可以推断a=b=0，又由c=1，D=0推出d可取(kěqǔ)任意值，用x表示结论：测试固定于1的故障A所要求的测试矢量，即输入为abcd=0010或0011.如果A点确实存在固定于1的故障，则输出的信号为0；如果A点不存在加假设的故障，则输出信号的值为112.4.3数字(shùzì)集成电路测试实例12.4.3数字集成电路(jíchéng-diànlù)测试实例12.4.3数字(shùzì)集成电路测试实例12.4.3数字集成电路(jíchéng-diànlù)测试实例12.4.3数字集成电路测试(cèshì)实例12.4.3数字集成电路(jíchéng-diànlù)测试实例12.5数字(shùzì)集成电路的可测性设计12.5.1特定(tèdìng)的可测性设计方法12.5.1特定(tèdìng)的可测性设计方法12.5.1特定的可测性设计(shèjì)方法12.5.1特定的可测性设计(shèjì)方法12.5.1特定的可测性设计(shèjì)方法12.5.1特定的可测性设计(shèjì)方法12.5.2扫描(sǎomiáo)路径法12.5.2扫描(sǎomiáo)路径法12.5.2扫描(sǎomiáo)路径法12.5.2扫描(sǎomiáo)路径法12.5