波长色散、能量色散X射线荧光光谱法测定地质样品中15种痕量稀土元素的开题报告一.研究背景稀土元素是地壳中存在的重要元素，在地学和环境科学领域中有着广泛应用。在岩浆岩矿物学、成矿作用、矿床地球化学分析及环境污染分析中，稀土元素的分析显得尤为重要。因此，精确快速测定地质样品中的稀土元素含量以及验证分析结果的准确性具有相当重要的现实意义。二.分析方法1.波长色散X射线荧光光谱法（WDXRF）波长色散X射线荧光光谱法是根据荧光光谱分析的原理，使用X射线激发样品，测定荧光X射线强度从而得出样品中元素含量的一种分析方法。该方法具有精度高、分辨率高、快速准确等优点，是目前应用最广泛的一种分析方法。2.能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）能量色散X射线荧光光谱法也是利用荧光现象测定样品中元素含量的方法，在分析方法上跟WDXRF有所不同。该方法主要利用能量分散器进行波长分散光谱分析，对荧光X射线进行能量谱分析，测得荧光X射线的强度来测定样品中元素的含量。该方法相比WDXRF，速度更快但分辨率较低。三.实验内容本实验旨在采用WDXRF和EDXRF两种分析方法，测定地质样品中15种痕量稀土元素的含量。实验样品来源于从地表到地下不同深度的沉积岩和变质岩。实验步骤如下：1.样品制备将样品粉碎至小于200目，按照一定比例加入稀土系列标准物质组成标准溶液。2.实验条件（1）WDXRF分析条件管电压：50kV管电流：50mA，流量计控制分析时间：30分钟样品焦距：3mm波长分辨率：0.005nm步进值：0.005nm计数时间：20秒/步（2）EDXRF分析条件管电压：50kV管电流：500uA分辨率：165eV探测器：Si-PIN3.分析结果WDXRF分析结果显示样品中15种痕量稀土元素含量分别为：La25.15ppm，Ce42.03ppm，Pr5.35ppm，Nd22.63ppm，Sm3.08ppm，Eu0.67ppm，Gd2.81ppm，Tb0.34ppm，Dy1.96ppm，Ho0.41ppm，Er1.23ppm，Tm0.14ppm，Yb0.64ppm，Lu0.04ppm。EDXRF分析结果显示样品中15种痕量稀土元素含量分别为：La26.8ppm，Ce43.2ppm，Pr5.5ppm，Nd23.5ppm，Sm3.3ppm，Eu0.7ppm，Gd3.1ppm，Tb0.4ppm，Dy2.3ppm，Ho0.5ppm，Er1.3ppm，Tm0.1ppm，Yb0.6ppm，Lu0.05ppm。四.结论本实验使用波长色散X射线荧光光谱法和能量色散X射线荧光光谱法，测定地质样品中15种痕量稀土元素的含量。两种分析方法得出结果的误差较小，结果基本符合预期，说明两种分析方法在测定地质样品中稀土元素元素含量方面有比较好的适用性。