光源器件测试方案特点简述.pdf
上传人:sy****28 上传时间:2024-09-14 格式:PDF 页数:14 大小:2.3MB 金币:16 举报 版权申诉
预览加载中,请您耐心等待几秒...

光源器件测试方案特点简述.pdf

光源器件测试方案特点简述.pdf

预览

免费试读已结束,剩余 4 页请下载文档后查看

16 金币

下载此文档

如果您无法下载资料,请参考说明:

1、部分资料下载需要金币,请确保您的账户上有足够的金币

2、已购买过的文档,再次下载不重复扣费

3、资料包下载后请先用软件解压,在使用对应软件打开

深圳易商简介光器件测试常见困难Yenista光器件测试方案深圳易商简介安立公司全球三大战略合作伙伴之一法国Yenista公司正式授权代理商工厂客户:中兴,华为,爱立信,阿朗、富士康、诺西、奥兰诺等。高校客户:清华、北大、东南大学、南邮、北邮,上海交大,暨南大学、浙江大学、宁波大学、电子科大、武汉大学、华中科大等研究所客户:55所、34所、58所、504所、24所、44所、5所、7所等。在北京、上海、南京、成都、西安、昆明设有派出机构。主要有光有源,光无源、APD/PIN管S参数、射频、微波、微电子、半导体器件等测试方案。光器件测试常见困难光源测试精度不够伴随光通信速率的提升,DWDM通道从100GHZ间隔逐渐向更低间隔延伸。目前市场上已经有50GHz间隔器件,25GHZ的也处于研发成熟阶段。但伴随的间隔的缩小,对通道的准确度要求越来越高,因此在测试器件时需用高精度的可调光源实现。这给将给测试增加极大的成本,且以前买的低精度的可调光源将不能使用,导致很大浪费。光源动态不够测量各光类器件时,动态范围是关键。没有高的动态范围,将不能真正展示被测器件的特征,很可能导致误判。因此测量的标准可调可调光源必须要有低的噪光源声,但由于半导体光源特Yenista系性决定,高功率输出,将列T100S会导致高噪声。因此增大光源功率降低噪声,一直是可调光源厂家努力的方向。测试速度不够快由于很多产线检测都有任务,多发货速度有要求,所以时间上要求光源扫描速度必须非常快。测试端口不够通常的DWDM很多是1*4、1*8路,很多工厂希望一次就扫完。但目前很多都是1端口功率计,要一端口、一端口测,这给测试带来很大的不方便。波长覆盖缺灵活有些工厂生产DWDM,也生产CWDM、所以偶尔也要测CWDM。此刻如果有可调光源,也需要一个波段,一个波段测,这势必效率非常低。且精度上,数据处理上都会带来很大的麻烦。深圳易商光器件测试优势方案解决精度方面问题Yenista的TunicsT100R、CT400InternalTLSsideCT400Det.Reference系列内置波长HDsideIN1计,实时校准可调光源,IN2CPL精度可以达到5pm。如果HDPref(功率Det1校准)DUT需要扫描可以用TunicsOutputDet2T100S与CT400器件测试SWDet3HD仪配合,虽然T100S的精IN3lReferencing(波长校准)Det4IN4度为15pm,但由于CPLCT400内置波长计,整个BNC(triggerout)扫描精度可以提高到5pm。CPL:coupler(耦合器)见CT400内置波长计校准HD:Heterodynedetection原理图:(相干检测)SW:opticalswitch(光开关)Det:detector(光探测器)解决动态范围问题Yenista的TunicsT100系列可调光源。信号与自发辐射比可达80dB以上,满足各类器件测量。端口问题解决波长覆盖1260-1650nm四端口功率计内置波长计最小接收功率达-65dBm波长覆盖问题解决Yenista可用四款光源拼接,实现1260-1660nm的全波段扫描,100nm/s速率扫描,10秒钟完成对全波段扫描。光源也可分开使用,使用灵活也可以与其他厂家光源匹配使用扫描结果显示分析可快速显示各通道曲线。可自动分析隔离度,平坦度,3dB带宽等。谢谢大家!