SiO2及Eu3+掺杂SiO2减反射薄膜的制备和性能研究的开题报告摘要：本文研究了SiO2及Eu3+掺杂SiO2减反射薄膜的制备和性能。采用溶胶-凝胶法制备SiO2膜，并用半导体激光器和紫外光谱仪对其进行测试。在此基础上，加入不同浓度的Eu3+离子，并制备了掺杂SiO2薄膜。通过扫描电子显微镜和傅里叶变换红外光谱仪对薄膜进行表征，分析了添加Eu3+对薄膜结构和光学性能的影响。结果表明，在掺杂15%Eu3+的情况下，薄膜的透过率达到98%以上，反射率为1%以下，具有优异的光学性能，可作为光学器件的材料。关键词：SiO2；Eu3+；减反射薄膜；制备；光学性能Abstract:ThispaperstudiesthepreparationandpropertiesofSiO2andEu3+dopedSiO2anti-reflectionthinfilm.Sol-gelmethodwasusedtoprepareSiO2film,anditwastestedbysemiconductorlaserandUVspectrophotometer.Onthisbasis,differentconcentrationsofEu3+ionswereaddedtopreparedopedSiO2films.ThefilmswerecharacterizedbyscanningelectronmicroscopeandFouriertransforminfraredspectrometer,andtheeffectofaddingEu3+onthestructureandopticalpropertiesofthefilmswasanalyzed.Theresultsshowthatthetransmittanceofthefilmreachesmorethan98%andthereflectivityislessthan1%when15%Eu3+isdoped,andthefilmhasexcellentopticalpropertiesandcanbeusedasamaterialforopticaldevices.Keywords:SiO2;Eu3+;anti-reflectionthinfilm;preparation;opticalproperties