p型金属诱导横向结晶多晶硅TFT直流应力下的退化研究的任务书.docx
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p型金属诱导横向结晶多晶硅TFT直流应力下的退化研究的任务书任务目标:本次研究旨在探究p型金属诱导横向结晶多晶硅薄膜晶体管在直流应力下的退化问题,并提出优化方案,以提高器件的可靠性和稳定性。任务内容:1.收集并分析近年来与该课题相关的文献资料,并对存在的问题进行总结梳理。2.设计并搭建实验平台,制备p型金属诱导横向结晶多晶硅薄膜晶体管试样,并进行退化实验。3.在退化过程中分别测量和分析器件的电学性能、光学性能和微观结构形貌的变化情况,并定量分析各参数之间的相关性。4.综合以上实验结果,提出优化方案,探索提高p型金属诱导横向结晶多晶硅TFT直流应力下的可靠性和稳定性的技术途径。5.撰写实验研究报告,总结实验过程中的操作经验和研究成果及其意义。任务要求:1.具备材料物理、物理化学、电子工程等相关学科的研究经验。2.熟练掌握器件制备、退化实验、电学性能测试、光学性能测试及微观结构分析等实验技术。3.具备较强的实验操作能力和数据分析能力,并能准确细致地记录实验记录和数据。4.具备较强的文献检索和阅读能力,并能根据不同文献资源的特点和优劣精准选择相关文献。5.具备优秀的科研写作能力,能够用科学的方式编写实验研究报告。6.本次研究需要具体实验条件,需充分考虑实验安全和经费限制,以确保实验顺利进行。参考时间安排:第1周:收集已有的文献资料,并研读已有的相关实验方法及数据处理方法。第2-3周:设计并搭建实验平台,并制备试样;第4-6周:进行器件退化实验,并测量各种性能指标。第7-8周:分析实验数据,提出优化方案;第9-10周:撰写实验报告。备注:以上时间排列仅供参考,实际时间可能会根据具体工作进度进行调整。