一、管制图公式说明1.计量值公式XR1.1管制图X管制图：n为组内样本量，m为抽样组数；xx......xx12nnmxxxxxix123....mi1mm标准偏差2nRXXmaxminR估计标准偏差^d2mRRR......Ri全距平均值R12mi1mm3管制上限UCLX()RXARdn22中心线CLX3管制下限LCLX()RXARdn223其中A2dn2R管制图：RR的标准偏差d()R3d2R管制上限UCLR3R3d()DRR3d42中心线CLRR管制下限UCLR3R3d()DRR3d323d3d其中D13，D133d4d221.2XS管制图文档X管制图：n(xx)2i第i组之标准偏差Si1in11mSSmii1S估计标准偏差C43管制上限UCLX()SXASCn34中心线CLX3管制下限LCLX()SXASCn343其中A3Cn4S管制图：管制上限UCLsBS4中心线CLsS管制下限LCLsBS31.3X-Rm管制图Rm管制图：移动全距MRxxiii1nMRiMRi1n管制上限UCLDMR4中心线CLMR管制下限LCLDMR3(当n=2时，D和D以样本数为2来查表)34个别管制图MR管制上限UCLx3d2中心线CLxMR管制下限LCLx3d2(当n=2时，d以样本数为2来查表)2**中位数随着计算机技术的发展，计算已经不是困难，逐步被淘汰**文档2.计数值公式2.1不良率管制图(PChart)当每组之样本数均相同时：1K中心线PPKii1P(1P)管制上限UCLmin(P3,1)nP(1P)管制下限LCLmax(P3,0)n当各组之样本数不相同时：1N中心线PnP，其中Nnn...nNii12ki1各组管制上下限分别为P(1P)管制上限UCLmin(P3,1)niP(1P)管制下限LCLmax(P3,0)ni2.2不良数管制图(PnChart)中心线CLPn管制上限UCLP3P(1P)nn管制下限LCLP3P(1P)nn其中P为各组之不合格数。nP为各组不合格数之平均值。n2.3缺点数管制图(CChart)中心线CLC管制上限UCLC3C管制下限LCLC3C其中C为平均不合格点数kCCi1k2.4单位缺点数管制图(UChart)中心线CLu文档u管制上限UCLu3nu管制下限LCLu3n其中：n=样本大小(检查的单位数)C=各组的缺点数Cu=各组的单位缺点数=nCun二、统计指标说明1.制程能力指数(ProcessCapabilityIndexes)(SL)★Ca；其中：平均值max(USLSL,SLLSL)SL：规格标准USL：规格上限LSL：规格下限(USL-LSL)★Cp；：估计标准偏差(CapabilitySigma)。6(USL-)★Cpu；：估计标准偏差(CapabilitySigma)。3(LSL)★Cpl；：估计标准偏差(CapabilitySigma)。3★Cpkmin(Cpu,Cpl)X★CcUSL16★CR；：估计标准偏差(CapabilitySigma)。CP(USLLSL)(USLLSL)★Cpm；：估计标准偏差(CapabilitySigma)。62(SL)22.制程表现指数(ProcessPerformanceIndexes)(USL-LSL)★Pp；：制程标准偏差(PopulationStandardSigma)。6文档(USL-)★Ppu；：制程标准偏差(PopulationStandardSigma)。3(LSL)★Ppl；：制程标准偏差(PopulationStandardSigma)。3★Pp