ICP－MS分析(fēnxī)性能ICP-MS的检出限Page3二.ICP-MS的工作(gōngzuò)原理在ICP中，等离子体激发基态原子的电子至较高能级，当较高能级的电子“落回”基态时，就会发射出某一待测元素的特定波长的光子。在ICP-MS中，等离子体炬管都是水平放置的，用于产生带正电荷的离子，而不是光子。实际上，ICP-MS分析中要尽可能阻止光子到达检测器，因为光子会增加信号的噪音。正是大量离子的生成和检测使ICP-MS具备了独特(dútè)的ppt量级的检测能力，检出限大约优于ICP技术3～4个数量级。三.ICP-MS的基本(jīběn)结构组成ICP-MS系统的基本(jīběn)部件示意图3.1电感(diànɡǎn)耦合等离子体电感(diànɡǎn)耦合等离子体的形成ICP离子源原理图3.2ICP与MS的接口(jiēkǒu)(Interface)四极(sìjí)杆质谱(QuadrupoleMass)双聚焦扇形(shànxínɡ)磁场质谱(Double-focusedMagnetic-SectorMassSpectrometer)飞行(fēixíng)时间质谱(Time-of-flightMS)固体(gùtǐ)雾化器高速气流(qìliú)在毛细管尖形成负压，带动样品溶液从管尖喷出雾化为小液滴雾室液滴与雾室内壁碰撞，较大的液滴聚集为废液流出；较小的液滴分散为气溶胶进入ICP流动(liúdòng)注射进样氢化物发生(fāshēng)/气体发生(fāshēng)进样电热蒸发直接进样进样量少传输率高(>60%)可预先除去溶剂(róngjì)可预先除去基体激光(jīguāng)烧蚀法——原位(insitu)探测技术3.5质谱图及其干扰(gānrǎo)光谱干扰：同质量类型(lèixíng)离子干扰同质量类型(lèixíng)离子干扰是指两种不同元素有几乎相同质量的同位素。对使用四极质谱计的原子质谱仪来说，同质量类指的是质量相差小于一个原于质量单位的同位素。使用高分辨率仪器时质量差可以更小些。周期表中多数元素都有同质量类型(lèixíng)重叠的一个、二个甚至三个同位素。如：铟有113In+和115In+两个稳定的同位素前者与113Cd+重叠，后者与115Sn+重叠。因为同质量重叠可以从丰度表上精确预计．此干扰的校正可以用适当的计算机软件进行。现在许多仪器已能自动进行这种校正。氧化物和氢氧化物离子(lízǐ)干扰仪器和试样制备(zhìbèi)所引起的干扰基体效应：光谱干扰和基体效应一般来讲可以通过相应的手段加以抑制和降低，但难以完全消除。因而在实际工作中要有针对性的采取(cǎiqǔ)各种方法提高分析准确性。四、ICP-MS分析(fēnxī)应用定性和半定量分析(dìngliàngfēnxī)定量分析(dìngliàngfēnxī)工作曲线法内标法同位素稀释法形态分析法同位素比测量谢谢(xièxie)感谢您的观看(guānkàn)！