ISO/TS16949系列之MSA培训专业求实严谨诚信ISO/TS16949系列之MSA培训教材，MeasurementSystemsAnalysisMSA测量系统分析第一章测量系统根述为何要进行测量系统分析如果测量出现问题，那么合格的产品可能被判为不合格，不合格的产品可能被判为合格，其后果可想而知。测量设备经检定或校准合格后，在实际使用环境下由于人、机、料、法、环、测等方面的原因，仍会产生测量误差。必须按MSA手册中规定的方法和判定准则对测量产品的测量系统进行分析，确定测量结果的变差是否足够小，降低产品误判的概率。测量变差通常分为：Bias偏倚;Repeatability重复性Reproducibility再现性;Linearity线性;Stability稳定性。基础概念测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。变差：过程的单个输出之间不可避免的差别。重复性：由一个评价人采用同种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得ISO/TS16949系列之MSA培训教材，的测量值变差。再现性：由不同的评价人采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时获得的测量平均值的变差。偏倚：测量结果的观测平均值与基准值的差值。稳定性：测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。线性：在量具预期的工作范围内偏倚值的差值。分辨力：测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。MSA选择的基础测量系统的评定通常分为两个阶段，第一阶段和第二阶段。第一阶段的试验有两个目的，第一个目的是确定该测量系统是否具有所需的统计特性。第二个目的是发现哪种环境因素对测量系统有显著影响；第二个阶段试验的目的是验证一个测量系统一旦被认为是可行的，应持续具有恰当的统计特性。第二阶段试验通常以正常校准程序，维护程序和计量程序的一部分日常工作来完成。理想的测量系统在每次使用时，应只产生“正确”的测量结果，这种结果应具有零方差，零偏倚和对所测的任何产品错误分类为零概率的统计特性。遗憾的是，具有这种理想的统计特性的测量系统几乎不存在，因此过程管理者必须具有不太理想的统计特性的测量系统。每一个测量系统可能需要有不同的统计特性，但有一些特性是所有测量系统所必须具有的：1)测量系统必须处于控制中，测量系统的变差只能是由于普通原因造成的；2)测量系统的变差必须比制造过程的变差小；3)变差应小于公差带；4)测量精度应高于过程变差和公差带中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带中精度较高者的十分之一；5)测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化，若真的如此，则测量系统最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。ISO/TS16949系列之MSA培训教材，第二章测量系统研究与分析步骤1.研究测量系统主要是分析测量系统的变差。2.测量系统变差的类型：偏倚、重复性、再现性、稳定性、线性。3.测量系统研究的准备，该准备必须形成报告或文件化3.1计划研究测量系统将要使用的方法。3.2确定评价人的数量、样品数量及重复读数次数，但应考虑以下因素：a．尺寸的关键性——关键尺寸需要更多的零件和/或试验；b．零件结构——大或重的零件可规定较少样品或较多试验。3.3评价人的选择评价人应从日常操作该仪器的人中挑选，知其重要性且仔细认真。3.4样品的选定样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围，对样品必须进行编号，以便识别。3.5测量的方式3.5.1测量应按随机顺序抽取样本，采用标准的盲测。3.5.2在读取测量数据时读数应估计到可得到的最接近的数字，如有可能读数应取最小刻度的一半。3.5.3所有评价人都应采用相同方法（包括步骤）来获得读数。3.6确保测量方法（即评价人和仪器）按照规定的测量步骤测量特性尺寸。4.测量系统分析4.1测量系统控制要求a．测量系统必须处于控制中，测量系统的变差只能是由于普通原因造成的；b．测量系统的变差必须比制度过程变差小；c．变差应小于公差带；d．测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说测量精度是过程变差和公差带中精度高者的十分之一；e．若测量系统统计特性随被测项目的改变而变化，则测量系统最大的变差ISO/TS16949系列之MSA培训教材，应小于过程变差和公差带中两者中的较小者。4.2测量系统接受准则对测量系统是否满意的准则取决于测量系统变差占零件容差或制造产品的过程变异的百分比，对于分析某过程的测量系统，接受测量系统的通用经验规