低维纳米体系载流子弹性输运性质的研究的中期报告这是一份关于低维纳米体系载流子弹性输运性质研究的中期报告。该研究旨在探究低维纳米体系内载流子的弹性输运性质，特别关注了矩形槽、矩形管和准一维纳米线等结构中的输运性质。首先，在矩形槽结构中，我们使用傅里叶变换方法计算了槽中电子的能带结构，得到了槽中电子的分散关系。接着，我们研究了槽中电子的输运性质，包括电阻率、导电性和热导性。我们发现，槽中电子的输运性质受到槽宽、槽深和材料参数等因素的影响。其次，在矩形管结构中，我们使用自洽场方法计算了管中电子的能级和输运性质，比较关注了管中自旋极化效应的影响。我们发现，在具有适当尺寸的管中，自旋极化效应会显著增强管的电导率，并且可以在实验上被探测到。最后，在准一维纳米线结构中，我们研究了纳米线的热膨胀和断裂性质对其输运性质的影响。我们发现，当纳米线长度小于一定值时，纳米线的热膨胀和断裂增加了导电性，进而提高了纳米线的传输性能。综上所述，这些研究对理解低维纳米体系中载流子的弹性输运性质提供了有价值的见解，并可以为设计高效纳米电子器件提供指导。