第二章光学显微分析2.1.1各种各样的显微镜双目立体显微镜（如图1）：使用单目显微镜时由于用单眼观察，工作的眼睛易于疲乏，而且无空间立体感，不便于判断试样深度方向上的细节．立体显微镜是把被观察的物体放大，形成正立的有立体感的像，它具有较长的工作距离和较大的视场，常用于检验、装配和修理细小的精密零件以及电子线路的焊接等工作．早期立体显微镜采用两个显微镜镜筒，光轴之间的夹角为14°～16°，数值孔径不超过0.1，放大率不大于12倍，即整个显微镜的放大率不超过120倍．它的缺点是两个中间像平面彼此倾斜；可进一步采用一组公用的大物镜，从而使中间像平面平行于物平面。立体显微镜有不连续变倍和连续变倍两种类型．金相显微镜：金相显微镜用以观察金属磨片等非透明物体，不必采用盖玻片(0.17mm)，因而加盖玻片的生物显微镜物镜在此不适用，应采用无盖玻片物镜．试样不透明，照明光束从上面照射非透明物体．干涉显微镜：干涉显微镜是由显微镜和干涉仪组合而成，基于测量干涉条纹的弯曲量而测量表面的微观不平度及透明物体的折射率不均匀性等，干涉显微镜分反射型和透射型两种类型．偏光显微镜：偏光显微镜用于矿物学、岩石学、生物学、化学、药物学、金属和冶金等部门分析和识别物质．在结构上具有下列特点：1．在载物台之下有一个下偏光镜、使入射的自然光变为偏振光．2．在物镜上有一个正交于下偏光镜的上偏光镜．3．在目镜下面有一个小的凸透镜并附有锁光圈装置称勃氏(Bertrand)镜．上偏光镜与勃氏镜可以推进或拉出．荧光显微镜：许多物质如人和动物的细胞等均具有荧光性．荧光显微镜利用物质的荧光性识别物质，利用物质的荧光色性易于作细菌探测．荧光物质把入射的紫外线变为可见光，使荧光显微镜对可见光成像，故可以采用常规的物镜和目镜．2.2金相试样的制备2.2.1金相试样的取样原则一般情况下，研究金属及合金显微组织的金相试样应从材料或零件在使用中最重要的部分截取，或在偏析夹杂等缺陷最严重的部位截取。在分析损坏原因时，则应在损坏的地方与完整的部位分别截取试样，以探究其损坏或失效的原因。对于有些产生长裂纹的部件，则应在裂纹发源处、扩展处、或裂纹尾端分别取样。对于大型的金相分析项目或较重要的金相检验项目，在报告中都应有图或文字说明试样选取的部位及方向。横向试样常用于观察：(a)试样中心边缘组织分布的渐变情况;(b)表面渗层、硬化层、镀层等表面处理的深度及其组织；(c)表面缺陷,如裂纹、脱碳、氧化、过烧等疵病的深度;(d)非金属夹杂物在整个端面上的分布情况;(e)测定晶粒度等．纵向试样常用于观察：(a)非金属夹杂物大小、变形情况及其含量；(b)带状组织的存在或消除情况；(f)塑性变形引起的晶粒或组织变形的情况．2.2.2制样过程取样金相试样较理想的形状是圆柱体或正方体，其直径或边长约10-20mm,高约10mm.镶嵌镶嵌是把试样镶汝镶嵌料中,夹持是把试样夹入预先制备好夹具内.磨制经截取镶嵌好的试样表面粗糙\形变层厚.在显微镜检查之前,必须经过磨光和抛光.磨光是为了消除取样时产生的变形层.金相试样经磨光后，仍有细微磨痕及表面金属形变扰动层，这将影响正确的显示组织，因而必须通过抛光加以消除。抛光的基本方法有机械抛光、化学抛光、和电解抛光。2.3特殊显微技术显微硬度的测定2.3.1偏振光显微镜的原理、结构及应用1、原理物质发出的光波具有一切可能的振动方向，且各方向振动矢量的大小相等，称为自然光。当矢量固定在一个固定的平面内只沿一个固定方向作振动时，这种光称为偏振光。偏振光的光矢量振动方向和传播方向所构成的面称为振动面。自然光通过偏振棱镜或人造偏振片可获得偏振光。利用偏光原理，可对某些物质具有的偏光性进行观察的显微镜，就称为偏振光显微镜。3.偏光装置的调整偏光装置使用前需对起偏镜位置、检偏镜位置和载物台中心位置进行调整，调整要点如下：(1)．起偏镜位置的调整起偏镜装在入射光路中可转动的圆框内，借手柄在一定角度内转动。调整目的是使人射光的偏振面呈水平位置，这样就可保证从垂直照明器反射进入物镜的光线强度最大，并能保证经过垂直照明器反射的光通过物镜到达试样表面仍为偏振光。调整时，可用经磨光、抛光但未浸蚀的各向同性金属试样(如不锈钢样)来进行。将试样放在载物台上，插人起偏镜(不装检偏镜)，从目镜内观测聚焦后试样磨面上反射的光强。转动起偏镜，强度发生微弱的明暗变化，反射光最强时就是正确的起偏镜位置。4．偏振光显微镜的应用(1)组织与晶粒的显示各向异性金属的多晶体，其晶粒在正交偏振光下可看到不同亮度。亮度不同，表明晶粒位向不同，而具有相同亮度的两个晶粒，有相同的位向。(2)多相合金的相分析(a)两相合金中一相为各向同性，另一相为各向异性，极易由偏