无损检测基础知识(全)无损检测定义在不损坏试件的前提下，以物理或化学方法为手段，借助先进的技术和设备器材，对试件的内部及表面的结构，性质，状态进行检查和测试的方法。而用人的肉眼为手段称之为宏观检查，。无损探伤：是无损检测早期阶段的名称，其涵义是探测和发现缺陷。无损检测：是当前阶段的名称，其内涵不仅仅是探测缺陷，还包括探测试件的一些其他信息，例如结构、性质、状态等，并试图通过测试掌握更多的信息。无损评价：是将进入或目前正在进入的新阶段的名称，其内涵不仅仅是探测缺陷、探测试件的结构、性质、状态，还要获取更全面、更深刻的、更准确的综合信息，例如缺陷的形状、尺寸、位置、取向、内容特、缺陷部位的金相组织、残余应力等。概述概述一射线检测1.1射线照相法的原理由x射线管所发出的x射线能谱为连续谱，因其波长分布是连续的。连续谱的最短波长λmin与管电压千伏值（kVP）的关系为λmin=12.4/kVP管电压越高，最短波长λmin的值就越小，平均波长越短，x射线的能量越高，线质越硬，穿透物质时衰减越少，穿透力越强。所以在射线检测时，一般是根据试件的材质和厚度来选择管电压。x射线的强度大致与管电压的平方和管电流的大小成正比。x射线的强度越大，图7.2-5x射线照相原理射线照相设备可分为：x射线探伤机、高能射线探伤设备、γ射线探伤机三大类。x射线探伤机有携带式，移动式两类。携带式x射线机主要用于现场射线照相，管电压一般小于320kV，最大穿透厚度约50mm。移动式x射线机用在透照室内的射线探伤，它具有较高的管电压和管电流。管电压可达450kV，最大穿透厚度约100mm。高能射线探伤设备主要有加速器等γ射线机由射线源、盛装源容器、操作机构、支撑和移动机构组成。1.3射线照相工艺为得到高的缺陷检出率。照相规范的选择应注意以下几点：（1）透照方式的选择和K值控制。按射线源、工件和胶片之间的相互位置关系，透照方式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影法和双壁双影法五种，。其中双壁单影法用于小直径的容器或大口径管子焊缝；双壁双影法用于Φ89以下管子对接环焊缝。除了管道和无法进入内部的小直径容器只能采用双壁透照外，大多数容器壳体的焊缝照相都采用单壁透照，透照时可以把射线源放在外面而把胶片贴在内壁（称为外透法），也可以把射线源放在里面而胶片贴在外面（称为内透法）。外透法的优点是操作比较方便，内透法的优点是透照厚度差小，在满足透照厚度比K值的情况下，一次透照长度较大。透照厚度比K的含义见图7.2-8，由图中关系可知：K=T′/T（7.2-8）θ=arcos（1/K）（7.2-9）标准规定，锅炉压力容器焊缝射线照相，纵缝的K值不得大于1.03，环缝的K值不得大小于1.1，限制透照厚度比，也就间接控制了横向裂纹检出角θ，使之不致过大，过大的θ角有可能导致横向裂纹漏检。采用源在内的透照方式，其θ角比源在外方式小得多，尤其是源在中心的内透法，K值为1，θ角为0，是最佳透照方式。（2）射线能量的选择。愈是使用低能量的射线，吸收系数μ值就愈大，从而可以得到ΔD较大的缺陷图象。为了达到这一目的，在采用X射线时要尽可能降低管电压，在采用γ射线时，则要选择能量较低的γ射线源。但是降低管电压会导致射线穿透力减小，因而不能得到黑度足够的底片。所以降低管电压也是有一定限度的。完整的说法是：在能穿透工件的前提下尽可能地降低x射线管电压。（3）透照距离的选择。焦距（射线源到胶片的距离）愈大，被检物体和胶片贴得愈紧，几何不清晰度愈小，在选择透照距离时，应将焦距选得大一些。但是由于射线的强度I与焦距F的平方成反比，所以不能把焦距选得过大，不然透照时，射线强度将不够，所以焦距的选择应在满足几何不清晰度要求的前提下合理选择，一般在透照中，焦距的选择大多在600～800mm间（4）曝光量的选择。曝光量E为射线强度I与曝光时间t的乘积，即E=I·t。曝光量的大小要能保证足够的底片黑度。如果管电压偏高，那么小的曝光量也能使底片达到规定黑度，但这样的底片灵敏度不够好，所以焦距为600mm时X射线照相的曝光量一般选择15mA·min以上。（5）胶片与增感屏的选择。高梯噪比胶片具有细颗粒、高梯度，其底片对比度ΔD大，颗粒度小，裂纹检出灵敏度高，检测高强度钢焊缝，或用γ射线探伤时，宜选择此种胶片。照相时根据射线能量选择不同厚度的铅箔增感屏或其它金属增感屏。铅箔吸收射线后放出二次电子，由于这种电子对胶片易于感光，因此用铅箔时感光度可提高2～7倍。而且铅箔能吸收散乱射线，使散射比n减小，从而提高底片的对比度。（6）底片黑度控制。黑度D值增大，胶片G值也增大，因此一般来说，应使底片黑度D大些，但黑度过大，观片灯亮度不够就不容易看清了，所以底片黑度也