目录TOC\o"1-3"\h\z\uHYPERLINK\l_Toc147371引言PAGEREF_Toc147371HYPERLINK\l_Toc181022采样保持电路基本理论分析及主要设计考虑PAGEREF_Toc181023HYPERLINK\l_Toc322802.1基本采样保持电路的分析PAGEREF_Toc322803HYPERLINK\l_Toc122672.2采样保持电路的性能指标PAGEREF_Toc122673HYPERLINK\l_Toc300072.3采样保持电路结构分析及选择PAGEREF_Toc300074HYPERLINK\l_Toc115082.3.1采样保持的基本结构PAGEREF_Toc115084HYPERLINK\l_Toc263822.3.3电荷重分配式采样保持电路PAGEREF_Toc263825HYPERLINK\l_Toc277152.3.4电容翻转式采样保持电路PAGEREF_Toc277156HYPERLINK\l_Toc316913采样保持电路的设计与实现PAGEREF_Toc316919HYPERLINK\l_Toc6833.1采样保持电路的整体结构PAGEREF_Toc6839HYPERLINK\l_Toc217153.2采样保持运算放大器的设计PAGEREF_Toc2171511HYPERLINK\l_Toc216193.2.1运算放大器的性能参数PAGEREF_Toc2161911HYPERLINK\l_Toc133043.2.2几种运放的结构比较PAGEREF_Toc1330412HYPERLINK\l_Toc307573.2.3采样保持放大器的设计与仿真PAGEREF_Toc3075713HYPERLINK\l_Toc188443.2.4偏置电路的设计PAGEREF_Toc1884416HYPERLINK\l_Toc268033.3开关电容的选取PAGEREF_Toc2680317HYPERLINK\l_Toc186073.4采样开关的设计PAGEREF_Toc1860718HYPERLINK\l_Toc189173.4.1MOS开关简介PAGEREF_Toc1891719HYPERLINK\l_Toc61273.4.2MOS开关非理想因素的分析PAGEREF_Toc612719HYPERLINK\l_Toc228413.4.3栅压自举开关PAGEREF_Toc2284119HYPERLINK\l_Toc139643.4.4时钟产生电路的设计PAGEREF_Toc1396421HYPERLINK\l_Toc136233.5采样保持电路总体仿真PAGEREF_Toc1362324HYPERLINK\l_Toc30654采样保持模块版图实现PAGEREF_Toc306526HYPERLINK\l_Toc279574.1版图设计基本原则PAGEREF_Toc2795726HYPERLINK\l_Toc285214.2采样保持电路版图实现PAGEREF_Toc2852126HYPERLINK\l_Toc132534.2.1整体设计布局PAGEREF_Toc1325326HYPERLINK\l_Toc40204.2.2元器件版图设计PAGEREF_Toc402027HYPERLINK\l_Toc89754.2.3各个模块的版图设计PAGEREF_Toc897529HYPERLINK\l_Toc197054.2.4整体版图设计PAGEREF_Toc1970530HYPERLINK\l_Toc222725总结PAGEREF_Toc2227233HYPERLINK\l_Toc18061谢辞PAGEREF_Toc1806134HYPERLINK\l_Toc8237参考文献PAGEREF_Toc823735HYPERLINK\l_Toc26339附录1PAGEREF_Toc2633936PAGE\*MERGEFORMAT21引言近几年微电子技术发展十分迅速，数字信号技术已经十分广泛，在生产生活中变得越来越重要，很多模拟电路在数字领域也变