线缆测试仪毕业论文线缆测试仪毕业论文题目：线缆测试仪设计目录TOC\o"1-3"\h\z\uHYPERLINK\l"_Toc214839736"HYPERLINK\l"_Toc214839737"HYPERLINK\l"_Toc214839738"HYPERLINK\l"_Toc214839740"1绪论PAGEREF_Toc214839740\h1HYPERLINK\l"_Toc214839741"1.1线缆组试仪的设计背景PAGEREF_Toc214839741\h1HYPERLINK\l"_Toc214839742"1.2研究目的和意义PAGEREF_Toc214839742\h1HYPERLINK\l"_Toc214839743"目的：PAGEREF_Toc214839743\h1HYPERLINK\l"_Toc214839744"1.3国内外现状和发展趋势PAGEREF_Toc214839744\h2HYPERLINK\l"_Toc214839745"1.4主要研究的内容是：PAGEREF_Toc214839745\h2HYPERLINK\l"_Toc214839746"2.MCU及AVR的选择2.1MCU的选型PAGEREF_Toc214839746\h3HYPERLINK\l"_Toc214839747"2.1.1．单片机的类型PAGEREF_Toc214839747\h3HYPERLINK\l"_Toc214839748"2.1.2．本系统中MCU的选择方案PAGEREF_Toc214839748\h3HYPERLINK\l"_Toc214839749"2.1.4单片机编译器的选择PAGEREF_Toc214839749\h5HYPERLINK\l"_Toc214839750"2.2AVR单片机的优势特征PAGEREF_Toc214839750\h6HYPERLINK\l"_Toc214839751"2.3AVR单片机现状PAGEREF_Toc214839751\h3HYPERLINK\l"_Toc214839752"2.4AVR单片机的发展现状PAGEREF_Toc214839752\h8HYPERLINK\l"_Toc214839753"3.CPLD和SPI介绍PAGEREF_Toc214839753\h8HYPERLINK\l"_Toc214839754"3.1CPLD的介绍PAGEREF_Toc214839754\h8HYPERLINK\l"_Toc214839755"3.2SPI的介绍PAGEREF_Toc214839755\h8HYPERLINK\l"_Toc214839756"4系统设计PAGEREF_Toc214839756\h13HYPERLINK\l"_Toc214839757"4.1系统工作原理PAGEREF_Toc214839757\h13HYPERLINK\l"_Toc214839758"4.2系统硬件设计PAGEREF_Toc214839758\h14HYPERLINK\l"_Toc214839759"4.2.1通断测试单元通断测试原理PAGEREF_Toc214839759\h14HYPERLINK\l"_Toc214839760"4.2.2通断测试电路PAGEREF_Toc214839760\h14HYPERLINK\l"_Toc214839761"4.2.3环路电阻，电压测试设计PAGEREF_Toc214839761\h16HYPERLINK\l"_Toc214839762"4.2.4电容测试设计PAGEREF_Toc214839762\h16HYPERLINK\l"_Toc214839763"4.2.5通道切换，驱动控制电路设计PAGEREF_Toc214839763\h17HYPERLINK\l"_Toc214839764"4.3系统软件设计PAGEREF_Toc214839764\h17HYPERLINK\l"_Toc214839765"5线缆测试仪测试分析PAGEREF_Toc214839765\h18HYPERLINK\l"_Toc214839766"5.1线缆测试系统设计PA