：工件表面高低起伏的程度，俗稱光度。表面粗糙度的量測：1.比較量測法：以目視或手指觸摸工件表面，為最簡便的方法。2.光線切斷法：(1)將光幕傾斜照射量測表面，再以高倍率的顯微鏡，將光幕與量測面所產生的斷面交線反射出來，然後經由顯微鏡上的微分裝置，測出表面粗糙度。(2)量測時不接觸量測面，對於軟質材料的量測較方便。3.光線反射法：非接觸量測法，適用於電鍍、琺瑯或紙張表面之量測。4.探針斷面測定法：工廠最常用的測定法。探針與刀痕方向要垂直。1.中心線平均粗糙度(Ra)：為CNS所採用，又稱為算術平均粗糙度。2.最大高度粗糙度(Rmax)：簡稱最大粗度法，通常在其數值後面加S字母。在基準長度內，曲線最高峰至最低谷之垂直距離。3.十點平均(Rz)粗糙度：通常在數值後加z字母，在基準長度間，分別在平均線選取最高五個波峰的平均值，及最低五個波谷的平均值，該兩平均值之垂直距離即為Rz。(以最高第三點與最低第三點之中數點平均高度。)4.平方根粗糙度(Rrms)：總結：(1)表面粗糙度的單位為1μm。(2)Rmax≒Rz≒4Ra(3)Rrms≒1.1~1.3Ra(4)所有粗糙度表示法中，以Ra值為最小。(1)切削加工符號：(2)表面粗糙度：CNS採用中心線平均粗糙度(Ra)，單位μm。亦可使用“粗糙度等級”標示，數字之前須加一“N”字。幾何公差：用來管制機件之外形的一種公差，稱為幾何公差一、幾何公差的一般原則：(1)幾何公差與長度或角度公差，兩者相互抵觸時，應以幾何公差為準。(2)平行度公差限定時，同時亦限制該平面的真平度誤差。(3)垂直度公差限定時，同時亦限制該平面的真平度誤差。(4)對稱度公差限定時，同時亦限制真平度與平行度的誤差。(5)同心度公差限定時，同時亦限制真直度與對稱度誤差。形態幾何公差之標註：幾何公差的標註是寫在一個長方形框格內(框格採用細實線)，此方框再分若干小格，由左至右依序填入下列各項：第一格：標註幾何公差。第二格：標註公差數值，單位mm。第三格：標註基準面或基準線之代號。若無，則此小格可省略不寫。最大實體狀況(1)定義：機件之尺度在公差範圍內，但保有最多材料之狀況，即孔之最小極限尺寸或軸之最大極限尺度。(2)最大實體狀況簡稱MMC，符號為