X线头影测量.X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去X线头影测量的主要应用描图软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒磨牙89常用的基准平面常用的测量平面1颅底平面2腭平面3合平面1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn)2通过颏下点与下颌下缘相切的线条3下颌下缘最低部的切线1下颌升枝平面2Y轴3面平面常用的硬组织测量项目SNA角ANB角面角22下颌平面角颌凸角上颌长翼上颌裂-蝶鞍点下颌长髁突后切线_蝶鞍点上中切牙角下中切牙角上中切牙凸距上中切牙凸距下中切牙凸距下中切牙凸距1全面高2上面高3下面高