背散射电子图像分析在水泥基材料微观结构研究中的应用【完整版】(文档可以直接使用，也可根据实际需要修订后使用,可编辑放心下载）第39卷第10期Vol.39，No.102021年10月October，2021JOURNALOFTHECHINESECERAMICSOCIETY背散射电子图像分析在水泥基材料微观结构研究中的应用王培铭，丰曙霞，刘贤萍(同济大学先进土木工程材料教育部重点实验室，上海200092)摘要：自上世纪80年代，国外研究者成功将背散射电子图像分析(backscatteredelectronimagingandimageanalysis，BSE-IA)技术应用于水泥基材料微观结构的研究中，在微观定性研究及物相定量分析方面，都获得不同于其他研究方法的研究结果。介绍了BSE-IA技术在水泥基材料研究中的应用原理及国外应用现状，并与其他研究方法比拟，分析了用此研究方法定性、定量研究水泥浆体中不同物相的优缺点，说明该技术在水泥基材料研究中具有独特的优势。关键词：背散射电子图像；微观结构；物相分析，水泥中图分类号：TQ174文献标志码：A文章编号：0454–5648(2021)10–1659–07DOI：CNKI:11-2310/TQ.20210927.1349.023网络出版时间：2021–09–2713:49:21网络出版地址：HYPERLINK"://wwwki.net/kcms/detail/11.2310.TQ.20210927.1349.023.html"://wwwki.net/kcms/detail/11.2310.TQ.20210927.1349.023.htmlApplicationofBackscatteredElectronImagingandImageAnalysisinMicrostructureResearchonCement-BasedMaterialsWANGPeiming，FENGShuxia，LIUXianping(KeyLaboratoryofAdvancedCivilEngineeringMaterialsofEducationMinistry,Shanghai200092,China)Abstract:Sincethe1980s,backscatteredelectronimagingandimageanalysis(BSE-IA)techniqueforpolishedsurfaceshasbeenproposedasamethodtoanalyzecementandconcretemicrostructures.Thistechniqueiswidelyappliedforbothqualitativeanalysisandquantitativeanalysis.TheprincipleofBSE-IAtechniqueanditsapplicationincementpasteandconcreteresearchwerereviewed,andtheadvantagesanddisadvantagesofthistechniqueinqualitativeandquantitativeanalysisofdifferentphasesincementpastewerecomparedwiththoseofothertechniques.ItwasindicatedthatBSE-IAtechniquehadsomedistinctiveadvantagesforcementstudies.Keywords:backscatteredelectronimage;microstructure;phasesanalysis,cement常见组成元素原子序数及背散射系数如表1所示。由于水泥基材料是多孔结构，直接进行磨抛处理会改变其内部结构，破坏测试面的真实性。目前常用的解决方法是用树脂进行镶嵌填充，树脂在孔隙中固化后可保护孔结构抵抗磨抛过程中的破坏力。抛光面的BSE的程度仅与化学组成相关，不受物相形貌特征的影响。与其他水泥材料微观结构研究方法相比，背散射电子图像分析(backscatteredelectronimagingandimageanalysis，BSE-IA)具有以下优越性：1)直观且全面地反映硬化浆体横截面的微观结构；样品通过磨抛可以展示任意横切面，可根据灰度特征和形貌特征区别图像中不同物相组成；2)定量测试物相1根本理论背散射电子是被固体样品中的原子反射回来的一局部入射电子，它的成像衬度与样品微区化学组成及形貌有关。样品通过磨抛后获得光面，此平面的背散射电子图像(backscatter