CPK基本知识什么是Cpk?推行步驟和Cpk相关的几个重要概念1USL(Upperspecificationlimit):即規格上限LSL(Lowspecificationlimit):即規格下限SL(specificationcenterlimit):规格中心X=(X1+X2+……+Xn)/n樣本平均值(n為樣本數)T=USL-LSL規格公差UCL(Uppercontrollimit):即控制上限LCL(Lowcontrollimit):即控制下限CL(controlcenterlimit):控制中心CL=XUCL=CL+3δ=X+3δLCL=CL-3δ=X-3δ大家应该也有点累了，稍作休息Ca.Cp.Cpk的計算公式Cpk=Cpx(1-Ca);Cpk≦Cp;Cpk是Cp和Ca的綜合表現﹔Ca:制程准确度;(CapabilityofAccuracy)Ca在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性;对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca;对于双边规格，(2)Ca值的等級判定Ca值是正值---實績平均值較規格中心值偏高Ca值是負值---實績平均值較規格中心值偏低Ca值愈小,品質愈佳,依Ca值大小一般分為以下六級：Cp等级评定及处理原则製程能力靶心圖Cpk等級評定及處理原則Cpk和制程良率換算Cpk的計算實例1Cpk的計算實例2X=10.036;s=0.027;Ca=(x-SL)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36;Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239;Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793;CPU=(USL-X)/3s=(10.1-10.036)/3*0.027=0.790CPL=(X-LSL)/3s=(10.036-9.9)/3*0.027=1.679Cpk的計算實例3Cpk的計算實例4控制图基本知识控制圖定义普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只用特殊原因被查出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。如果仅存在变差的普通原因，目标值线随着时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。预测时间范围目标值线如果存在变差的特殊原因，随着时间的推预测移，过程的输出不稳定。时间范围产品质量的统计观点控制图預防或容忍分析用控制图分析用控制图主要用来分析1〉过程是否处于统计稳定2〉过程能力是否适宜如发现异常（过程失控或过程能力不足），则应找出原因，采取措施，使过程达到稳定。过程处于稳态后，才可将分析用控制图的控制线延长作为控制用控制图控制用控制图控制用控制图主要用来分析1〉控制用控制图由分析用控制图转化而来2〉控制用控制图用于使过程保持稳定，预防不合格的产生控制用控制图的应用规则：按规定的取样方法获取数据，通过打点观察，控制异常原因的出现—当点子分布出现异常，说明工序质量不稳定，此时应及时找出原因，消除异常因素，使工序恢复到正常的控制状态控制用控制图与分析用控制图关系和区别管制图类型管制图的實例（X-R）首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限。1计算平均极差（R）及过程均值（X）R=（R1+R2+…+Rk）/k（K表示子组数量）X=（X1+X2+…+Xk）/k2计算控制限计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反映在极差上的子组内的变差的量来决定的。计算公式：UCLx=X+A2RUCLR=D4RLCLx=X-A2RLCLR=D3R注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值见表a当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控制限，将其作为将来的一段时期的控制限。b当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率）应调整中心限和控制限。方法如下：b-1估计过程的标准偏差（用σˆ表示），用现有的子组容量计算：σˆ=R/d2式中R为子组极差的均值（在极差受控期间），d2为随样本容量变化的常数，如下表：b–2按照新的子组容量查表得到系数d2、D3、D4和A2，计算新的极差和控制限：R新=σˆd2(σˆ=R/d2)UCLR=D4R新LCLR=D3R新UCLX=X+A2R新LCLX=X–A2R新控制圖分析1超出控制限的