主要内容随着计算机技术的飞速发展和大规模集成电路的广泛应用，智能仪器在改善和提高自身性能的同时，也大大增加了系统的复杂性。这就给智能仪器的测试带来诸多问题，如测试时间长、故障诊断困难、使用维护费用高等，从而引起了人们的高度重视。自20世纪80年代以来，测试性和诊断技术在国外得到了迅速发展，研究人员开展了大量的系统测试和诊断问题的研究，测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性并行发展的学科分支。可测试性是系统和设备的一种便于测试和诊断的重要设计特性，对各种复杂系统尤其是对电子系统和设备的维修性、可靠性和可用性有很大影响。可测试性设计要求在设计研制过程中使系统具有自检测和为诊断提供方便的设计特性。具有良好测试性的系统和设备，可以及时、快速地检测与隔离故障，提高执行任务的可靠性与安全性，缩短故障检测与隔离时间，进而减少维修时间，提高系统可用性，降低系统的使用维护费用。可测试性概述可测试性概述可测试性概述可测试性概述可测试性概述固有测试性设计固有测试性是指仅取决于产品硬件设计，不依赖于测试激励和响应数据的测试性。它包括功能和结构的合理划分、测试可控性和可观测性、初始化、元器件选用以及与测试设备兼容性等，即在系统和设备硬件设计上要保证其有方便测试的特性。它既支持BIT，也支持外部测试,固有测试性既有利于BIT，也支持外部测试设备，是满足测试性要求的基础。因此在测试性设计中，应尽早进行固有测试性的分析与设计，避免返工和浪费。固有测试性设计固有测试性设计机内测试技术--BITBIT简介BIT简介常规BIT技术常规BIT技术常规BIT技术常规BIT技术常规BIT技术常规BIT技术常规BIT技术边界扫描的原理框图常规BIT技术常规BIT技术智能BIT技术智能BIT技术第四节可测试性设计实例A/D,D/A测试