原子力式显微镜AtomicForceMicroscopyAFM.ppt
上传人:天马****23 上传时间:2024-09-11 格式:PPT 页数:17 大小:5.7MB 金币:10 举报 版权申诉
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設備呈像原理量測方式分類(A)呈像原理FeedbacksystemLaser=a+b+c+dVER=(a+b)-(c+d)LAT=(a+c)-(b+d)接觸式〈contactmode〉非接觸式〈noncontactmode〉半接觸式〈tappingmode〉數據種類區分結論探針安裝探針安裝探針與雷射調整探針與雷射調整