影响X射线荧光光谱定量分析准确度的主要因素SuperQ操作软简介SuperQ软件的主要功能SuperQ软件主要界面WDXRF谱议基本结构Axios定量分析方法的制定制定定量分析程序的基本步骤XRFSYSTEMSETUP界面输入程序名和通道组名后样品标记的识别方法界面样品标记的识别类型测量条件（Conditions）的设定测量条件（Conditions）汇编界面样品形态描述熔融法样品形态输入界面汇编化合物表通道参数包括：元素名，分析线，晶体，准直器，滤光片，分析角，电压，电流，PHD条件，漂移监控等条件。每个元素必须汇编一个通道。汇编的智能化：当化合物表汇编完成时，通道参数立即形成。原则上可用于测量。根据需要可适当调整。新通道的加入：需加内标线如RhK或其康普吨散射线和分析线的干扰通道等，用“NewChannel”方式手动加入。选择分析线及分析角。这种通道仅做强度测量用，不报告分析结果。通道光学扫描：检查峰位角，确定背景角，检索干扰峰，计算峰和背景测量时间。PHD扫描：确定PHD条件汇编的通道参数表谱线、晶体、准直器和探测器可用软件的推存值，kV和mA的乘积为功率的0.8左右。滤光片的选择用黄铜滤光片除去原级谱中特征X射线分析通道的选挥原级谱激发靶材的影响优化kV选择优化kV选择优化kV选择原级谱激发原则原级谱激发原则原级谱激发原则原级谱激发原则通道测量角度的核对(CheckAngle)通道测量角度的确定角度扫描(CheckAngle)界面背景产生的机理(1)背景随基体而变化背景产生的机理(2)背景校正的方法SUPERQ软件扣除背景的方法多项式拟合拉格郎日多项式地质样品中背景选择之一峰位及背景点的强度拉格郎日多项式中系数可转换成：Pro-Trace扣除背景法SUPERQ软件测定时问的计算测量时间的计算实测背景的计算方法分析峰和背景测量时间的计算1.通过CSEREL计算；通过abs%计算2.通过LLD计算Relationbetweeraspectrumandcalibrationcurve谱线重叠谱线重叠影响的校正脉冲高度分析器的功能脉冲高度分析原理逃逸峰1.使用冲氩流气计数器时，22号Ti至29号Ni间各元素出现规则性的逃逸峰,且随原子序的增大，子峰越接近主峰.铜以后子峰与主峰完全重叠。2.使用闪烁计数器时，基本上不出现逃逸峰现象，因为碘引起的逃逸峰超出该探测器的工作范围。§3.6探测器的能量分辨率分析脉冲的各种能量干扰晶体荧光能量干扰晶体荧光和高次线的干扰(1)晶体荧光和高次线干扰(2)逃逸峰干扰高次线对一级线干扰生成分析测量程序