EMI测试的基本观前言随著电子产品位化的普及,各国也纷纷对电磁干扰的问题加以重视,在可以预的未,大部份的电子产品,在销售到市场之前,都会被要求符合相关的EMI测试规格,而在EMI测试上的许多名词与方法,一直缺少详尽的明与解释.本文即针对在EMI测试上常会遇到的一些问题,提供者作一考一EMI要求测试的精确为何?关於测试上的精确,一般而言自然是要求达到精确,如一颗石头用同的秤秤,其结果是会相差太大的,但是在EMI上的测试却同於一般的测,往往同一个样品在甲测试场地和乙测试场地所测得的结果值会有很大的差,甚而在甲测试场地所测得的值可以符合限制值的要求,但乙测试场地所测得的值却无法符合要求.关於这个问题,相信许多接触过EMI测试的工程师都有这种经验,因此有某个实验室较松或较严的法产生,要清楚的明这个问题,需要解EMI要求测试的精确为何?由於大多人一直沿用一般的测试观看待EMI的测试故而产生许多,误解与人云亦云的法.严格地,在EMI测试的要求上并没有精确的观,也就是EMI测试是无法要求每一个杂讯频点的值非常精确,那麼EMI测试的基本要求是麼呢?这一点在早期的MP4中有很清楚的明,射和AC电源传导测必须在一能确保有效的(valid),可重覆的(repeatable)测试结果的环境下测,事实上,这点是EMI测试上所要求的精确性.所谓有效的是指所测得的杂讯确实是由待测物(EquipmentUnderTest)中所射出的,而非外界或其它仪器所产生的.如在开放测试场地(OpenSite)测试射与传导杂讯,因为外界的杂讯非常多,像FM电台,TV电台,火腿族或附近正在使用的一些电子产品,这些会与待测物的杂讯同时出现在频谱分析仪(SpectrumAnalyzer)上,没有仔细的判断,可能会将外界杂讯误认为是待测物产生的杂讯,那麼失去有效性的要求,而且也无甚意义.所以通常有经验的EMI测试工程师会事先在屏蔽室(ShieldedRoom)或电波无反射室(AnechoicChamber)内,将待测物的杂讯射频点找出,以避免产生错误,或将待测物的电源关掉,此时杂讯仍然存在,则表示是外界所产生.杂讯消失而再开电源杂讯又产生,则可确定该点之杂讯是待测物所产生,如果没有经过这些方法的检验,则测试的结果可能是正确的.为使者能快明了开放测试场地的杂讯,在图1中所显示的即是一开放测试场地在频谱分析仪中所出现的杂讯,一般称之为背景杂讯(Ambientnoise).图1开放测试场地的背景杂讯由图1中者可以看到在88MHz-130MHz频带有许多甚强的杂讯存在,大多为电台的讯号,待测物的杂讯是在这范围内,则无法由开放测试场地测得杂讯射的大小,一般可以忽与电台频重叠或相近的杂讯,除非此杂讯比电台信号还高,或者有电波无反射室的设备,则可以直接在电波无反射室测试记即可.另外关於可重覆的意义,则是指在同时间测试同样的待测物,其结果值必须是相同的.如果同样的待测物,在同一测试场地经过多次的测试,而每次结果值都相同,那麼这样的测试符合可重覆性的要求.谈到可重覆性的问题,要同时考虑个重要的因素,一个是测试场地与仪器设备,另一个则为待测物的配置摆放(Configuration),关於第一个因素较普遍被讨到,如测试场地的场地衰减(SiteAttenuation)在ANSIC63.4-1992中,有详细的明介绍与测试方法,其中并规定开放测试场的场地衰减与标准值之间的误差需在±4dB以内,这要求已经包括测试场地,天线,测试仪器等误差的考虑,也就是如果场地衰减是符合这个要求可作为测试场地的测.一般而言,只要场地能符合场地衰减,大多都能达到可重覆性的要求,除非是因天候况佳(下雨)或测试仪器故障.而另一项最容被测试工程师所忽的是待测物的配置摆放,这一点往往是造成测试结果同的主因,在早期MP4中的要求,对待测物的配置位置除依典型使用的方式摆放外,还必须找出杂讯射最大的位置,也就是一般所谓的最差情况(worstcase),由於待测物往往有许多接线,而接线的位置摆放常会使得测试值有很大的差.因为这些线通常都成为激天线或寄生天线将杂讯射到空中,所以有时将线直或靠近机体,会使杂讯升高许多,以往由於对这个现象并没有深刻的认,故常许多工程师对同一样品在同时间测试所得结果同感到疑惑,而认为是测试场地.为使者能很快明了这中间的差,在此做一个简单的实验,使用一条模拟线接在PC的VGA卡上,将接线相对於接地平面(GroundPlane)水平及垂直摆放,看其最大射点的值差.图2模拟线摆放同的位置图3模拟线水平摆放图4模拟线垂直摆放由图2,图3及图4中相信者能快解,待测物周边对杂讯射影响的程,所以每次测试待测物与周边接的位置同,皆可能使得所测得的射强同,虽然MP4中有明要找出最大射的摆放位置,但这毕竟有